ZYGO 8070-0279-01

应用领域

  • 半导体制造: 测量芯片表面形貌,确保芯片质量。
  • 光学元件检测: 测量透镜、棱镜等光学元件的表面质量。
  • 精密机械加工: 测量精密零件的表面粗糙度和形貌。
  • 科研领域: 用于各种科学研究,如材料科学、生物医学等。

优势

  • 高精度: 能够实现纳米级的测量精度。
  • 稳定性高: 激光源稳定,测量结果可靠。
  • 操作简便: 配套软件操作简便,易于上手。
  • 应用广泛: 可用于多种材料和表面的测量。
分类:

Description

ZYGO 8070-0279-01 产品详情

产品概述

ZYGO 8070-0279-01 通常是ZYGO公司生产的干涉测量仪系统中的一个激光头组件。作为干涉测量系统的核心部件之一,它负责产生并发射高精度的激光束,用于测量样品的表面形貌。

主要功能与特点

  • 高精度激光源: 提供稳定、高精度的激光束,是进行精密测量的前提。
  • 集成于干涉测量系统: 与ZYGO的干涉测量仪系统无缝集成,实现高精度测量。
  • 应用广泛: 在半导体制造、光学元件检测、精密机械加工等领域有着广泛应用。

应用领域

  • 半导体制造: 测量芯片表面形貌,确保芯片质量。
  • 光学元件检测: 测量透镜、棱镜等光学元件的表面质量。
  • 精密机械加工: 测量精密零件的表面粗糙度和形貌。
  • 科研领域: 用于各种科学研究,如材料科学、生物医学等。

优势

  • 高精度: 能够实现纳米级的测量精度。
  • 稳定性高: 激光源稳定,测量结果可靠。
  • 操作简便: 配套软件操作简便,易于上手。
  • 应用广泛: 可用于多种材料和表面的测量。

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