位测试功能块用于测试位串中的某一位是 1 或 0，测试结果存入输出 Q 中。 每次扫描时当测试功能块得电, 输出 Q 状态与指定测试的位的状态相同。如果 用于指定测试位数的为寄存器变量而不是常数，那么每次扫描时同一功能块 将可对不同的位进行测试。如果测试位数 BIT 超出范围 (1 < BIT < (16 * length) ), 那么输出 Q 为 OFF。 位测试功能支持最长 256 个字的位串。
Move 功能用于以位的形式从某处拷贝数据至另一处。因为数据以位的格式拷 贝，因此目的地的数据类型可以与源地址的数据类型不同。 Move 功能执行时，它将输入参数 IN 的数据 按位拷贝至输出参数 Q 中。如果 数据是从离散内存的一个区域移到另一个，（例如，从％I 移到％T）,无论 MOVE 指令执行是否引起离散内存变量改变状态,该离散变量的跳变信息也将 被刷新。输入数据不会改变，除非源地址和目标地址重叠。
Value to be Moved OK Enable MOVE INT IN Output Q 注意如果 Q 参数指定的是一位类型数据数组不包含一个字节中的所有位，那 么执行移动功能时与该字节(其不在数组中)相关的跳变信息被清除。 输入参数 IN 可以是一个变量地址也可以是一个常数。 如果输入为一常数，那 么该常数将被拷贝至指定的输出地址中。
例如，如果输入 IN 为常数 4, 那么 4 将被拷贝至指定的输出 Q 中。如果输入为常数且长度大于 1，那么这个常数 将被拷贝至输出 Q 指定的地址起的顺序地址中。输入 IN 和输出 Q 地址不允 许重叠。 Move 指令结果取决于使用以下何种 MOVE 指令类型。 例如，输入 IN 为 9 且 长度为 4，那么输入 将按位拷贝至输出 Q 和其后 3 个长度的地址中。
(Q10-5) 1 TRIP TRAP S024D TRIP INDICATOR Q10-5
(Q10-6) 1 NIB RED LION APLSP4A0 DISPLAY PANEL Q10-6
(R1-1) 1 OMRON ZV2-N21-2S LIMIT SWITCH R1-1
(R1-1) 1 NIB CUTLER HAMMER E57-12LE06-C PROXIMITY SWITC
(S2-3) 1 TURCK Ni2-Q9, 5-AP6-0,1-ES4 4X3/S304 SENSO
(4425) Westinghouse Fuse Kit Visi-Flex De-Ion Switch 17
(5545) Allen Bradley Contactor 100-C12ZJ01 12 A 3P 24 V
(z 7-1 L8) 1 ELECTROMATIC SYSTEM 128 FLC 6316 7-1
